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CT4447-2

Name: Cal Test Electronics CT4447-2
Brand: Cal Test
SKU: 510-CT4447-2
Price: 469.87 CHF
Availability: InStock

Bilder dienen lediglich der Veranschaulichung und sind nicht Originalgetreu
Siehe Produktspezifikationen

Mouser-Nr.:

510-CT4447-2

Herst.- Nr.:

CT4447-2

Herst.:

Cal Test

Beschreibung:

Prüfspitzen Differential Probe Kit, 30MHz, 1.4kV, 20x/200x, cTUVus List

Datenblatt:

CT4447-2 Datenblatt (PDF)

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Hersteller:	Cal Test Electronics
Produktkategorie:	Prüfspitzen
RoHS:
Ausstattungsart:	Differential Probe
Typ:	Differential Probe
Bandbreite:	30 MHz
Spitzentyp:	Various
Länge:	200 mm
Farbe:	Black
Nennspannung:	100 VAC to 240 VAC
Nennstrom:	350 mA
Marke:	Cal Test
Kabeltyp:	BNC
Land der Bestückung:	TW
Land der Verbreitung:	Not Available
Ursprungsland:	TW
Beschreibung/Funktion:	Active Differential Probe
Kenndaten und Eigenschaften:	High-Voltage Differential Probe
Höhe:	28 mm
Produkt:	Test Probes
Produkt-Typ:	Test Probes
Serie:	CT4447
Verpackung ab Werk:	1
Unterkategorie:	Test Leads, Banana Plugs, Alligator Clips & Test Probes
Breite:	68 mm

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Datenblatt

CT4447-2 Datenblatt (PDF)

EU Declaration of Conformity (PDF)

CNHTS:: 9030900090
CAHTS:: 9030900000
USHTS:: 9030908911
JPHTS:: 903090000
KRHTS:: 9030909000
TARIC:: 9030900000
BRHTS:: 90309090
ECCN:: EAR99

CT4447 Hochspannungs-Differential-Sonden

Die CT4447 Hochspannungs-Differential-Sonden von Cal Test Electronics bieten Bandbreiten von bis zu 30 MHz, ±eine Gain-Genauigkeit von ±2 % und eine Differential-Nennspannung von bis zu 1.400 V. Diese Sonden sind so ausgelegt, dass geerdete Oszilloskope sichere, präzise, potenzialfreie Messungen zwischen zwei Punkten durchführen können. Die Sonden der CT4447-Baureihe wandeln potenzialfreie Signale in massebezogene Niederspannungssignale um, die auf jedem massebezogenen Oszilloskop sicher angezeigt werden. Die CT4447 Hochspannungs-Differential-Sonden von Cal Test Electronics sind mit Oszilloskopen aller größeren Hersteller kompatibel und eignen sich hervorragend für Präzisions-Leistungshalbleiter, potenzialfreie Messungen, schaltbare Netzteil-Designs und Leistungswandlermessungen.