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MTE6114C1

Name: Marktech Optoelectronics MTE6114C1
Brand: Marktech Optoelectronics
SKU: 193-MTE6114C1
Price: 10 CHF
Availability: InStock

Bilder dienen lediglich der Veranschaulichung und sind nicht Originalgetreu
Siehe Produktspezifikationen

Mouser-Nr.:

193-MTE6114C1

Herst.- Nr.:

MTE6114C1

Herst.:

Marktech Optoelectronics

Beschreibung:

Infrarot-Emitter 1445nm SWIR Dome Lens

Datenblatt:

MTE6114C1 Datenblatt (PDF)

ECAD Model:

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	7.43 CHF	74.30 CHF
	6.15 CHF	615.00 CHF
	5.52 CHF	2 760.00 CHF
	5.45 CHF	5 450.00 CHF

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Produktattribut	Attributwert	Attribut auswählen
Hersteller:	Marktech Optoelectronics
Produktkategorie:	Infrarot-Emitter
RoHS:
Montageart:	Through Hole
Wellenlänge:	1445 nm
Beam-Winkel:	25 deg
If - Durchlassstrom:	50 mA
Vf - Durchlassspannung:	1 V
Nennleistung:	6 mW
Minimale Betriebstemperatur:	- 20 C
Maximale Betriebstemperatur:	+ 85 C
Verpackung/Gehäuse:	5 mm
Verpackung:	Bulk
Marke:	Marktech Optoelectronics
Land der Bestückung:	Not Available
Land der Verbreitung:	Not Available
Ursprungsland:	JP
Produkt-Typ:	IR Emitters (IR LEDs)
Serie:	SWIR LED
Verpackung ab Werk:	1
Unterkategorie:	Infrared Data Communications

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Datenblatt

MTE6114C1 Datenblatt (PDF)

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CAHTS:: 8541410000
USHTS:: 8541410000
JPHTS:: 854141000
TARIC:: 8541410000
MXHTS:: 8541410100
ECCN:: EAR99

Short Wavelength Infrared Emitters

Marktech Optoelectronics Short Wavelength Infrared (SWIR) Emitters include both through-hole and surface mount packages with wavelengths from 1020nm to 1900nm. The SWIR emitters operate from 20mA to 350mA current range and are designed for high-power applications. These emitters consist of a high-output infrared die in a water-clear 5mm plastic molded package. The SWIR emitters offer high-speed light emission in ranges not easily seen by standard detectors and are ideal for material and chemical analysis. Typical applications include optical switches, optical sensors, fiber optical communication, Bioflorescence and blood chemistry analysis, night vision, safety equipment, currency validation, fiber optics, and inspection systems.